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電動位移臺選購指南
電動位移臺選購指南

電動位移臺選購指南電動位移臺是精密定位和自動化控制系統(tǒng)的重要組成部分,廣泛應用于科研、工業(yè)自動化、機器人、光學實驗等領域。正確選擇適合您需求的電動位移臺對于實驗的成功和設備的高效運行至關(guān)重要。以下是選購電動位移臺時需要考慮的幾個關(guān)鍵因素:1.位移臺類型?雙軸平移臺:提供兩個方向(...

2024-03-15
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  • 探針臺的安全存放

    探針座作為探針臺的核心部件,主要用途是連接探針和線纜,為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個導通條件,從調(diào)節(jié)精度上來區(qū)分可分為10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等,從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動,此外根據(jù)應用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等,廣泛應用于半導體及光電行業(yè)的電學參數(shù)測試。技術(shù)優(yōu)勢:主體材質(zhì)采用進口航空鋁,保證穩(wěn)定性及線性位移精度;采用精密加工燕尾槽,采用分離式燕尾,保證位移精度;整體采用手輪驅(qū)動,雙頂絲設計,提高穩(wěn)定性;L型探針夾具...

    20249-26
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  • 探針座的細節(jié)讓你值得擁有它

    探針座作為探針臺的核心部件,主要用途是連接探針和線纜,為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個導通條件,從調(diào)節(jié)精度上來區(qū)分可分為10μm/5μm/3μm/1μm/0.5μm等,從操作方式來區(qū)分可分為手動和電動,此外根據(jù)應用場景的不同又可分為通用型探針座/萬向型探針座/L型探針座等,廣泛應用于半導體及光電行業(yè)的電學參數(shù)測試。技術(shù)優(yōu)勢:主體材質(zhì)采用進口航空鋁,表面噴砂氧化,優(yōu)質(zhì)的機械性能;采用進口交叉滾珠導軌,超高穩(wěn)定性;采用進口高分辨率微分頭驅(qū)動,提高整體位移精度;多功能調(diào)節(jié)夾具,可以...

    20248-8
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  • 均勻光源積分球的技術(shù)優(yōu)勢

    光源放置在積分球內(nèi),光源發(fā)出的光在球內(nèi)壁上經(jīng)過無數(shù)次的漫反射,充分積分球之后,最終在積分球出口平面的光斑是一種均勻的漫射光,具有理想的朗伯余弦特性,所以這種均勻光斑,在國防,科研,工業(yè)等眾多領域有廣泛應用。例如:均勻照明源,光學儀器定標等;此款積分球兼容測光功能,預留多個光口,滿足不同應用需求。發(fā)光二極管(LED)具有發(fā)光效率高、性能穩(wěn)定、壽命長、種類豐富等優(yōu)點,利用這些特性,國內(nèi)外近年來研制出了以LED為發(fā)光器件的光譜可調(diào)參考光源,將不同種類的LED安裝在積分球內(nèi)壁,調(diào)整不...

    20247-19
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  • 射頻探針臺的使用方法

    射頻探針臺是一種高精度的設備,主要用于對芯片進行科研分析、抽查測試等用途。它的應用主要是使用探針直接測量晶圓或裸芯片的微波射頻參數(shù)。通過使用射頻探針,我們能夠在晶片層面上準確測量射頻組件的特性,從而縮短研發(fā)時間,降低新產(chǎn)品開發(fā)成本。探針臺可以將電探針、光學探針或射頻探針放置在硅晶片上,從而可以與測試儀器/半導體測試系統(tǒng)配合來測試芯片/半導體器件。這些測試可以很簡單,例如連續(xù)性或隔離檢查,也可以很復雜,包括微電路的完整功能測試??梢栽趯⒕A鋸成單個管芯之前或之后進行測試。在晶圓...

    20246-3
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  • 半導體晶圓測試探針臺是電子產(chǎn)業(yè)的“精準檢測器”

    半導體晶圓測試探針臺,一種專為半導體晶圓測試設計的設備,以其高精度、快速響應的特點,為電子產(chǎn)業(yè)提供了重要的技術(shù)支持。本文將為您詳細介紹該設備的用途、工作原理、使用方法以及市場前景。半導體晶圓測試探針臺的用途該設備廣泛應用于電子產(chǎn)業(yè)。其主要用途包括:1.半導體晶圓測試:在半導體晶圓制造過程中,該設備用于對晶圓進行電性能測試,確保晶圓的質(zhì)量和性能。2.集成電路(IC)測試:在集成電路制造過程中,該設備用于對集成電路進行電性能測試,確保集成電路的質(zhì)量和性能。該設備的工作原理該設備的...

    20245-27
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  • 半導體的秘密守護者:半導體封裝測試探針臺的科技魅力

    在半導體制造的過程中,有一個環(huán)節(jié)極其重要,那就是測試。是否可以確保每個半導體器件都能在實際應用中發(fā)揮預期的功能?答案就在半導體封裝測試探針臺中。半導體封裝測試探針臺,就是在半導體制程中,用于進行電學測試的關(guān)鍵設備。它的主要作用是將測試設備與被測半導體器件連接,通過探針對芯片進行精確定位,以測試其電學性能。半導體封裝測試探針臺的工作原理相當。它由精密的機械部分和電子部分組成,其主要組成部分包括基座、微動平臺、探針卡、探針等。當被測器件放置在測試臺上后,微動平臺會按照預設的程序進...

    20245-24
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  • 高低溫真空探針臺:精密科研的超級助手

    在材料科學、物理學和微納電子學的研究中,對樣品進行高低溫處理并在真空環(huán)境下進行電學性能測試是一項常見的需求。高低溫真空探針臺就是為了滿足這一需求而設計的精密儀器。它結(jié)合了溫度控制技術(shù)和真空技術(shù),為科研人員提供了一個穩(wěn)定的實驗平臺,以便在條件下對材料的電學性質(zhì)進行精確測量。它的基本工作原理是通過內(nèi)置的加熱和冷卻系統(tǒng)來控制樣品的溫度。這些系統(tǒng)可以在很寬的溫度范圍內(nèi)調(diào)節(jié),通常從極低溫(如液氮溫度)到高溫(幾百甚至上千攝氏度)。同時,探針臺還配備了真空泵,用于抽取腔體內(nèi)的空氣,形成真...

    20245-22
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  • 高低溫真空探針臺的技術(shù)優(yōu)勢

    高低溫真空探針臺系統(tǒng)主要用于為被測芯片提供一個低溫或者高溫的變溫測量環(huán)境,以便測量分析溫度變化時芯片性能參數(shù)的變化。腔體內(nèi)被測芯片在真空環(huán)境中有效避免易受氧化半導體器件因接觸空氣所帶來的測試結(jié)果誤差,是材料學、芯片、半導體器件等方向?qū)嶒灧治龅睦硐脒x擇。應用領域:半導體材料光電檢測,功率器件測試,MEMS測試,PCB測試,液晶面板測試,測量表面電阻率測試,精密儀器生產(chǎn)檢測,航空航天實驗室。譜量光電可以根據(jù)客戶實際應用需求,定制配套探針臺系統(tǒng),以達到更好的測試效果及更高的性價比。...

    20245-22
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  • 拼接式隔振光學平臺的常見拼接方式

    振動來源主要分為來自系統(tǒng)內(nèi)部及外部的振動。地面的振動,周圍人和環(huán)境的振動通過地面?zhèn)鱽淼恼駝佣紝儆谙到y(tǒng)外部的振動,這一類振動需通過光學平臺的隔振腿衰減;而來自系統(tǒng)內(nèi)部的振動包括儀器振動、氣流、冷卻水流等,則需依靠光學平臺的桌面阻尼來隔絕。光學平臺系統(tǒng)包括光學面包板和隔振腿。光學平臺可放置儀器并對振動進行控制。光學面包板是隔振系統(tǒng)中重要的一部分,其主要作用是提供一個無相對形變的剛性平臺,當有振動源傳遞到桌面時,桌面蜂窩結(jié)構(gòu)和阻尼可有效減弱光學平臺振動變形。光學平臺隔振腿除了支撐,...

    20244-19
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  • 半導體晶圓測試探針臺可用于集成電路的測試和研發(fā)階段

    半導體晶圓測試探針臺,這一在半導體行業(yè)占據(jù)重要地位的設備,以其精密的技術(shù)和廣泛的應用領域引起了人們的廣泛關(guān)注。本文將帶您深入了解它的工作原理、應用領域以及其在半導體產(chǎn)業(yè)中的價值。一、工作原理半導體晶圓測試探針臺主要用于對半導體晶圓進行電學性能測試,如電阻率、電導率等參數(shù)的測量。該設備通過采用四探針法進行測試,將探針與晶圓表面接觸,測量電流和電壓的變化,從而得出相應的電學參數(shù)。在測試過程中,探針臺需要具備穩(wěn)定性和精度,以確保測試結(jié)果的準確性。此外,探針臺還需具備自動化、智能化等...

    20244-16
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  • 芯片測試探針臺的原理、應用與技術(shù)挑戰(zhàn)

    在半導體制造領域,芯片測試探針臺是確保芯片性能和可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。這種精密的設備用于檢測和分析晶圓上的芯片是否合格,對于提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量具有至關(guān)重要的作用。本文將對它的工作原理、應用場景以及面臨的技術(shù)挑戰(zhàn)進行詳細的介紹。芯片測試探針臺,又稱為探針卡或探針臺,是半導體測試過程中的重要組成部分。它的工作原理基于電子信號的傳輸和接收。在芯片制造過程中,完成晶圓制作后,需要對上面的每個芯片進行電學性能測試。測試探針臺通過一組細如發(fā)絲的探針,精確地接觸晶圓上的焊盤(pad),將預...

    20244-12
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  • 顯微鏡系統(tǒng)正置與倒置的優(yōu)缺點以及不同應用

    顯微鏡作為科學研究的基礎工具之一,其設計和構(gòu)造對實驗的成功至關(guān)重要。正置顯微鏡和倒置顯微鏡是兩種常見的顯微鏡類型,它們各有特點和適用領域。正置顯微鏡特點:在正置顯微鏡中,物鏡位于樣品之上,光源位于樣品之下。傳統(tǒng)的顯微鏡設計,廣泛用于教育和基礎科研。優(yōu)點:適合觀察薄片和玻片上的樣品。設計相對簡單,使用方便。缺點:不便于觀察厚樣品或活細胞培養(yǎng)。倒置顯微鏡特點:在倒置顯微鏡中,光源和物鏡的位置相對于正置顯微鏡是顛倒的,物鏡位于樣品之下,光源位于樣品之上。主要用于細胞生物學、發(fā)育生物...

    20244-7
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