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精密型基礎(chǔ)測試探針臺

簡要描述:譜量根據(jù)客戶實際應(yīng)用需求,推出精密型基礎(chǔ)測試探針臺,結(jié)構(gòu)小巧,功能實用,性價比高的簡易模塊化探針臺,該探針臺系統(tǒng)包括顯微成像模塊、四維調(diào)整載物臺、真空吸附系統(tǒng)、探針座、隔振平臺等。 多用于晶圓測試、LED測試、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、太陽能電池片測試、側(cè)料電阻率測試以及搭建材料電學測試系統(tǒng)、光電探測器光電響應(yīng)系統(tǒng)、光電Mapping測試系統(tǒng)等

  • 產(chǎn)品型號:TLRH系列
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-11-26
  • 瀏覽次數(shù):815

詳細介紹

品牌PLCTS樣品臺尺寸4英寸、6 英寸、8 英寸、12 英寸
樣品臺行程XY軸110mm,Z軸10mm,360°粗調(diào),±5°精調(diào)樣品臺位移精度3μm
背電極測試功能可引背電極樣品臺真空吸附進口無油真空泵,7L/min
樣品固定方式環(huán)形真空吸附樣品臺定制化可定制(尺寸/材質(zhì)/鍍金/背光)
探針座行程XYZ三軸13mm探針座調(diào)節(jié)精度3μm
探針座固定方式可調(diào)磁力吸附(可選配真空吸附,螺絲固定)接口形式香蕉插頭、鱷魚夾、BNC、SMA、N同軸接口/三同軸接口
成像顯微鏡雙目體式顯微鏡(可升級金相顯微鏡)放大倍數(shù)~200倍(最大可升級到~1000倍)
CCD2000W高清彩色相機顯微鏡位移行程XY行程25mm*25mm,分辨率3μm
探針座數(shù)量標配 3 個

 探針臺又稱探針測試臺,主要用途是為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個可調(diào)測試針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對材料、芯片等進行科研實驗分析,抽查測試等用途。

 TLRH系列精密型基礎(chǔ)測試探針臺是我司根據(jù)高??蒲屑爱a(chǎn)業(yè)研發(fā)需要,而特定設(shè)計的一款高精密高穩(wěn)定探針臺,其較高的位移調(diào)節(jié)精度及優(yōu)異的漏電精度控制,已成為包括場效應(yīng)管在內(nèi)的多端器件IV測試的理想之選。

技術(shù)優(yōu)勢:

  • ● 模塊化設(shè)計,可以搭配不同構(gòu)件完成不同測試;

  • ● 最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試;

  • ● 探針臺整體位移精度高達3μm,樣品臺精密四維調(diào)節(jié);

  • ● 兼容多種光學顯微鏡,可外引光路實現(xiàn)光電mapping測試;

  • ● 滿足1μm以上電極/PAD使用;

  • ● 漏電精度可達10pA/100fA(屏蔽箱內(nèi));

  • ● 探針座采用進口交叉滾珠導軌,線性移動,無回程差設(shè)計;

  • ● 加寬探針放置架,可放置6個DC探針座/4個RF探針座;

  • ● 配顯微鏡二維精密調(diào)節(jié)功能,且可選配多種行程及驅(qū)動方式。

細節(jié)展示:

精密型基礎(chǔ)測試探針臺

詳細模塊配置及參數(shù)說明:

名稱                型號                單位                數(shù)量                參數(shù)                
探針臺臺體                PBL                                1                
  • 底部蜂窩隔振面包板,尺寸450mm*600mm*50mm帶橡膠隔振地腳,有效隔絕Z軸微振;

  • 四維調(diào)節(jié)樣品架,XY軸行程110mm,Z軸行程10mm,整體分辨率3μm,360°粗調(diào),±5°精調(diào);

  • 兩邊半圓形高穩(wěn)定性探針架,集成真空吸附開關(guān),帶有連接標準探針卡夾具接口(探針卡單買),表面鐵磁不銹鋼材質(zhì),拉絲鍍鉻處理,保證磁吸穩(wěn)定性的同時防止生銹。

探針座                TPLS-UP                                2                
  • 三維調(diào)節(jié),整體調(diào)節(jié)精度3μm(可選配0.5μm,1μm);

  • 測量范圍:10pA/100fA(屏蔽箱環(huán)境)-10A;

  • 行程:XYZ行程分別13mm;

  • 固定方式:可調(diào)磁吸吸附;

  • 探針夾持角度:偏擺60°;

  • 配置線纜:同軸線纜(漏電精度10pA)/三同軸線纜(漏電精度100fA)。

顯微成像模塊                ST51                                1                
  • 體式顯微鏡;

  • 放大倍率:40.2~270倍;

  • 圖像傳感器:2000萬像素,支持電腦控制,拍照錄像,HDMI輸出;

  • 目鏡:采用高眼點超廣角目鏡,視場Φ23mm;

  • 外置高亮無極調(diào)節(jié)亮度環(huán)形LED光源;

  • 配置顯微鏡萬向支架;

  • 高清顯示器及顯示器萬向支架;

  • 標配XY二維調(diào)節(jié)裝置,行程25*25mm,分辨率3um;

  • 可據(jù)需求選配如激光顯微鏡、高分辨金相顯微鏡等。

真空吸附卡盤                PVS-04                                1                
  • 臺面尺寸:4/6/8/12英寸可選,不銹鋼材質(zhì);

  • 4英寸3個吸附孔,6/8英寸4個吸附孔,12英寸5個吸附孔;

  • 標配進口無油真空泵,吐出空氣量7L/min,長期穩(wěn)定運行;

  • 搭配聚四氟材質(zhì)旋轉(zhuǎn)可鎖緊裝置,分離鎖緊,360°旋轉(zhuǎn);

  • 背電極設(shè)計:可引出背電極;

  • 吸附孔圓槽設(shè)計,增強吸附能力;

  • 單獨吸附孔道,獨立真空吸附開關(guān);

  • 真空吸附套裝附件。

探針                PTR-03                                1                
  • 鎢鋼探針:長38mm,直徑0.5mm,可測電流范圍,1fA-1A,針尖直徑可選(1/3/5/10/30/50/150/300/500μm);

  • 鎢鋼鍍金探針:長38mm,直徑0.5mm,可測電流范圍,1fA-1A,針尖直徑可選(1/3/5/10/30/50/150/300/500μm);

  • 鍍金軟針:長51mm,可測電流范圍,1fA-1A,針尖直徑可選(5/10/30/50/125μm)。

常規(guī)選型:

產(chǎn)品型號                樣品臺尺寸                樣品臺位移精度                探針座位移精度                漏電流精度                探針座數(shù)量                
TLRH-04                4英寸                3μm                3μm                100fA                3個                
TLRH-06                6英寸                3μm                3μm                100fA                3個                
TLRH-08                8英寸                3μm                3μm                100fA                3個                
TLRH-12                12英寸                3μm                3μm                100fA                3個                

實驗附件及常規(guī)測試步驟:

光學隔振平臺(臺面>600mm*600mm)、一臺計算機(標準VGA接口和USB接口)、吉時利2400數(shù)字源表(含軟件)等。

測試時連接探針臺和數(shù)字源表,探針接被測物體,通過顯微鏡觀察確定兩根探針是否緊貼被測物表面,待連接導通后打開源表軟件,選好參數(shù)即可出該觸點的I-V性能曲線。

應(yīng)用領(lǐng)域:

半導體材料光電檢測功率器件測試MEMS測試PCB測試液晶面板測試測量表面電阻率測試精密儀器生產(chǎn)檢測航空航天實驗

譜量光電可根據(jù)客戶實際應(yīng)用需求,定制配套探針臺系統(tǒng),以達更好的測試效果及更高的性價比,具體信息可聯(lián)系詳詢。


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