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當前位置:首頁 > 產(chǎn)品中心 > 探針臺 > 精密型基礎(chǔ)測試探針臺 > TLRH系列精密型基礎(chǔ)測試探針臺
簡要描述:譜量根據(jù)客戶實際應(yīng)用需求,推出精密型基礎(chǔ)測試探針臺,結(jié)構(gòu)小巧,功能實用,性價比高的簡易模塊化探針臺,該探針臺系統(tǒng)包括顯微成像模塊、四維調(diào)整載物臺、真空吸附系統(tǒng)、探針座、隔振平臺等。 多用于晶圓測試、LED測試、功率器件測試、MEMS測試、PCB測試、液晶面板測試、太陽能電池片測試、側(cè)料電阻率測試以及搭建材料電學測試系統(tǒng)、光電探測器光電響應(yīng)系統(tǒng)、光電Mapping測試系統(tǒng)等
產(chǎn)品分類CLASSIFICATION
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詳細介紹
品牌 | PLCTS | 樣品臺尺寸 | 4英寸、6 英寸、8 英寸、12 英寸 |
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樣品臺行程 | XY軸110mm,Z軸10mm,360°粗調(diào),±5°精調(diào) | 樣品臺位移精度 | 3μm |
背電極測試功能 | 可引背電極 | 樣品臺真空吸附 | 進口無油真空泵,7L/min |
樣品固定方式 | 環(huán)形真空吸附 | 樣品臺定制化 | 可定制(尺寸/材質(zhì)/鍍金/背光) |
探針座行程 | XYZ三軸13mm | 探針座調(diào)節(jié)精度 | 3μm |
探針座固定方式 | 可調(diào)磁力吸附(可選配真空吸附,螺絲固定) | 接口形式 | 香蕉插頭、鱷魚夾、BNC、SMA、N同軸接口/三同軸接口 |
成像顯微鏡 | 雙目體式顯微鏡(可升級金相顯微鏡) | 放大倍數(shù) | ~200倍(最大可升級到~1000倍) |
CCD | 2000W高清彩色相機 | 顯微鏡位移行程 | XY行程25mm*25mm,分辨率3μm |
探針座數(shù)量 | 標配 3 個 |
探針臺又稱探針測試臺,主要用途是為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺,探針臺可吸附多種規(guī)格芯片,并提供多個可調(diào)測試針以及探針座,配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)檢測。適用于對材料、芯片等進行科研實驗分析,抽查測試等用途。
TLRH系列精密型基礎(chǔ)測試探針臺是我司根據(jù)高??蒲屑爱a(chǎn)業(yè)研發(fā)需要,而特定設(shè)計的一款高精密高穩(wěn)定探針臺,其較高的位移調(diào)節(jié)精度及優(yōu)異的漏電精度控制,已成為包括場效應(yīng)管在內(nèi)的多端器件IV測試的理想之選。
● 模塊化設(shè)計,可以搭配不同構(gòu)件完成不同測試;
● 最大可用于12英寸以內(nèi)樣品測試;
● 探針臺整體位移精度高達3μm,樣品臺精密四維調(diào)節(jié);
● 兼容多種光學顯微鏡,可外引光路實現(xiàn)光電mapping測試;
● 滿足1μm以上電極/PAD使用;
● 漏電精度可達10pA/100fA(屏蔽箱內(nèi));
● 探針座采用進口交叉滾珠導軌,線性移動,無回程差設(shè)計;
● 加寬探針放置架,可放置6個DC探針座/4個RF探針座;
● 配顯微鏡二維精密調(diào)節(jié)功能,且可選配多種行程及驅(qū)動方式。
光學隔振平臺(臺面>600mm*600mm)、一臺計算機(標準VGA接口和USB接口)、吉時利2400數(shù)字源表(含軟件)等。
測試時連接探針臺和數(shù)字源表,探針接被測物體,通過顯微鏡觀察確定兩根探針是否緊貼被測物表面,待連接導通后打開源表軟件,選好參數(shù)即可出該觸點的I-V性能曲線。
半導體材料光電檢測功率器件測試MEMS測試PCB測試液晶面板測試測量表面電阻率測試精密儀器生產(chǎn)檢測航空航天實驗
譜量光電可根據(jù)客戶實際應(yīng)用需求,定制配套探針臺系統(tǒng),以達更好的測試效果及更高的性價比,具體信息可聯(lián)系詳詢。
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